K používání a měření webu využíváme cookies. Používáním tohoto webu souhlasíte se způsobem, jakým s cookies nakládáme. Další informace

Měření vrstev a povrchů

Měření vrstev a povrchů

  • Optické profiloměry
  • Fizeau interferometry
  • Elipsometry
  • Nanoindentory
  • Mikrolitografy
  • Analyzátory velikosti částic
  • Spin coatery pro přípravu tenkých vrstev
Analyzátor velikosti částic

Analyzátor velikosti částic

Měření velikosti částic od 3 nm do 100um diferenciální sedimentací v odstředivém poli

Nanotest Vantage

Nanotest Vantage

Univerzální platforma pro testování mechanických vlastností materiálů

NanoTest Xtreme

NanoTest Xtreme

Platforma pro testování mechanických vlastností materiálů ve vakuu

NewView 8000

NewView 8000

Vysoce výkonný 3D optický profiloměr pro charakterizaci povrchu materiálu s opakovatelností až 0,01nm

Zygo objektivy

Zygo objektivy

Objektivy speciálně určené pro optické profiloměry na bázi whitelight interferometrie

Dynafiz

Dynafiz

Laserový interferometr pro dynamická měření tvaru optických prvků s extrémní odolností proti vibracím

Verifire

Verifire

Laserový Fizeau interferometr pro běžné měření tvaru optických prvků a reflexních povrchů