SPIM (Single plane illumination microscopy) je neinvazivní mikroskopická metoda založená na prosvětlování vzorku svazkem laserového paprsku roztaženého do čáry (tzv. ligh sheet). Vzorek je tedy osvětlován v jedné rovině a detekován v rovině kolmé. Specifické komponenty (laser, kamera, optika, optické filtry, akviziční software aj.) pro snímání konkrétního vzorku a přizpůsobené pro konkrétní experimenty umožní uživateli sestavení SPIM mikroskopu "na míru“.