Spektroskopický elipsometr alpha 2.0 je nástupcem úspěšného a cenově dostupného modelu alpha-SE od J.A. Woollam.
Řešení pro rutinní měření tloušťky a indexu lomu tenkých vrstev. Kombinace kompaktních rozměrů a jednoduchému designu umožňuje snadné ovládání, a to při zachování maximálního výkonu spektroskopické elipsometrie.
Novinka v podobě patentované technologie duální rotace zaručuje vysokou přesnost elipsometrických měření včetně Muellerovy Matice.
Klíčové vlastnosti:
- Jednoduchá obsluha
- Rychlé měření celého spektra díky CCD detektoru
- Příznivá cena
- Nová generace s patentovanou technologií duální rotace
Navštivte produktovou stránku pro více informací o novince: ZDE.