OptiXs vás zve na webinář pořádaný SIOS Messtechnik, který vás během 45 minut uvede do problematiky vysoce přesného měření tloušťky pomocí měřidel s kontaktní sondou.
Současné trendy ve vědě i průmyslu kladou vysoké nároky na přesné měřicí systémy, především na jejich schopnost určovat geometrické rozměry objektů. Obzvlášť zajímavou aplikací se mimo jiné stává jednorozměrné měření tloušťky materiálů.
Speciálně vyvinuté měřící sestavy založené na dotykových sondách s precizním interferometrickým odměřováním jsou schopné určit tloušťku s nejistotou měření v řádu jednotek nanometrů. Měřicí rozsah se pohybuje od desítek nanometrů až po desítky milimetrů.
Představují proto efektivní nástroj nejen pro komparaci měřicích bloků, ale také pro měření tloušťky optických prvků a křemíkových waferů.
Harmonogram:
- Geometrické charakteristiky tloušťky
- Základní principy měření tloušťky dotykovou sondou
- Jaké faktory ovlivňují přesnost měření?
- SIOS interferometrické dotykové sondy LM 20 a LM 50
- Příklad aplikace: komparace měřicích bloků
- Příklad aplikace: měření tloušťky čoček
- Příklad aplikace: měření tloušťky waferů
- Jak zvýšit rozlišení a přesnost stávajících sestav pro měření délky a tloušťky pomocí interferometru?
Kdy? 8.3.2022