- Optixs
- Aplikace
- Energetika
- Fotovoltaika
Fotovoltaika
V rámci potřeby zvyšování energetické i ekonomické efektivity solárních článků jsou častým předmětem vědeckého bádání materiály na bázi perovskitů, organických molekul, kombinaci tenkých vrstev i na bázi nanomateriálů (kvantové tečky, nanotrubičky, nanostrukturované povrchy).
Další výzvou je skladování získané energie, kam se řadí například výzkum v oblasti vodíkových palivových článků, nových materiálů pro bateriový výzkum i alternativní způsoby skladování energie. Sem se mimo jiné řadí i rychle rostoucí oblast výzkumu 2D materiálů, jako je například grafen, MoS2 a další.
Pro zkoumání těchto nových, pokročilých materiálů nemůže ve vaší laboratoři chybět vybavení pro zkoumání optických, elektrických i mechanických vlastností v nanoměřítku.
Vhodnými nástroji jsou pro tento účel například mikroskopy atomárních sil (AFM), spektroskopické elipsometry, optické profilometry a nanoindentory z naší nabídky.
Produkty pro Fotovoltaika
![Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem](/obrazky/web/3336rc2-xf---focused_sm.jpg)
Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem
Špičkový spektroskopický elipsometr s mikrofokusací. Měření na bázi dual RCE technologie a CCD detekce.
![Mapovací elipsometr Theta-SE](/obrazky/web/1838rychly-mapovaci-spektroskopicky-elipsometr-theta-se_sm.jpg)
Mapovací elipsometr Theta-SE
Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev
![Jupiter XR - velkoformátové AFM](/obrazky/web/2181large-sample-afm-mikroskop-jupiter-xr_sm.jpg)
Jupiter XR - velkoformátové AFM
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
![Vero - interferometrické AFM](/obrazky/web/5150vero_sm.jpg)
Vero - interferometrické AFM
Vero - rodina ultravýkonných AFM s interferometrickým odměřováním posuvu hrotu