Přenášená vlnoplocha
Odchylka přenesené vlnoplochy (TWE) se používá k určení kvality transmisních optických prvků z hlediska jejich přenosových vlastností.
Na rozdíl od měření tvaru povrchu, měření přenesené vlnoplochy zahrnuje souhrn odchylek způsobených se předním i zadním povrchem, klínovitostí a nehomogenitou materiálu. Tato metrika vypovídající o celkovém výkonu nabízí lepší porozumění skutečného výkonu optiky.
Ačkoliv jsou na většině optických komponent prováděny individuální testy na formu povrchu nebo TWE specifikace, tyto komponenty jsou nevyhnutelně stavěny do komplexnějších optických sestav s vlastními požadavky na výkon. Zatímco u některých aplikací je pro předpovězení finálního výkonu možné spoléhat na obecná měření komponent a toleranci, u sofistikovanějších aplikací je podstatné měřit sestavu na míru.
TWE měření testují, zda optické systémy odpovídají předem určeným specifikacím. Kromě toho jsou užitečné pro snížení doby sestavy pomocí aktivního zarovnání systémů. Přitom zajišťují, že optická sestava odpovídá očekávanému výkonu.
Kromě viditelné oblasti spektra máme v nabídce i další vlnové délky pro testování optiky za podmínek co nejbližších koncové aplikaci.
Zarovnání optických systémů v reálném čase
ZYGO patentovaná technologie pro akvizici dat DynaPhase® (dostupná na všech současných modelech interferometrů od Zygo) umožňuje měření časové změny optických systémů a zarovnání optických komponent v reálném čase. Vše se špičkovou přesností.
Zhlédněte video se stručnou demonstrací.
S pomocí ZYGO interferometrů je měření odchylky přenesené vlnoplochy (TWE) jednoznačné a spolehlivé.