Jupiter XR AFM od Asylum Research je první a jediný mikroskop atomárních sil pro velké vzorky, který nabízí nekompromisní kombinaci vysoké rychlosti měření při rozšířeném rozsahu skenování v rámci jediného skeneru. Jupiter XR Poskytuje přístup ke kompletnímu povrchu až 200 mm vzorků ve vysokém rozlišení s rychlým procesem od vložení vzorku po získání přesných výsledků. Rychlejší data, snazší uživatelské rozhraní, univerzalita - to odlišuje Jupiter XR od konkurence a nabízí excelentní parametry pro akademický i průmyslový vývoj a výzkum.
Aplikace
Typické aplikační oblasti:
- Polovodiče
- Mikroelektronika
- Fotovoltaika a úložiště energie
- Tribologie & korozivní procesy
- Polymery
- 2D materiály
Klíčové vlastnosti
- Rychlost & přesnost
- Spolehlivá metrologie
- Snadná obsluha a automatizace
- Velký rozsah skenování
