Vero - interferometrické AFM

Vero od Asylum Research je rodina mikroskopů atomárních sil s unikátní, patentovanou technologií QPDI (kvadraturní fázová diferenciální interferoemtrie) nabízející nekompromisní kombinaci vysokého rozlišení při vysoké rychlosti měření s kompletní škálou měřicích módů.

Aplikace

Typické aplikační oblasti

  • Polovodiče, Piezoelektrika
  • Nanomechanické testování
  • 2D materiály

Klíčové vlastnosti

  • Měří skutečnou pozici hrotu - kvantitivní data
  • Vysoká stabilita, opakovatelnost a rozlišení
  • Nízký šum a eliminace přeslechů
  • Rychlost & přesnost
  • Flexibilita - široká nabídka módů už v základní konfiguraci
  • Snadná obsluha a automatizace
Vero - interferometrické AFM
Vero - interferometrické AFM Vero - interferometrické AFM Vero - interferometrické AFM

Aplikační oblasti:

Richard Schuster
Odborný poradce

Ing. Richard Schuster

+420 601 123 593

schuster@optixs.cz

Zaslat poptávku

OptiXs care

  • Odborně zkonzultujeme vaši plánovanou aplikaci
  • Náš tým je schopen produkt integrovat i do většího systému
  • Zajistíme rychlé dodání náhradních dílů a lokální servis
S čím dalším můžeme pomoci

Příslušenství

 

 Standardní měřicí režimy: Volitelné měřicí režimy:
Contact mode (DC) AM-FM Viscoelastic Mapping Mode
DART PFM Contact Resonance Viscoelastic Mapping Mode
Dual AC, Dual AC Resonance Tracking (DART) Conductive AFM (cAFM) with ORCA™ and Eclipse™ Mode
Electrostatic Force Microscopy (EFM) Current mapping with Fast Force Mapping
Force curves Electrochemical Strain Microscopy (ESM)
Force Mapping Mode (force volume) Fast Force Mapping Mode
Force modulation High voltage PFM
Frequency modulation Nanoscale Time Dependent Dielectric Breakdown (nanoTDDB)
Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM) Scanning Microwave Impedance Microscopy (sMIM)
Lateral Force Mode (LFM) Scanning Tunneling Microscopy (STM)
Loss tangent imaging  
Magnetic Force Microscopy (MFM) ************************** 
Nanolithography  
Nanomanipulation blueDrive - photothermal excitation 
Phase imaging Electrochemical cell (EC-AFM)
Piezoresponse Force Microscopy (PFM) Temperature and humidity control
Switching spectroscopy PFM Perfusion cell 
Tapping mode (AC mode) Glove box compatibility
Tapping mode with digital Q control  
Vector PFM  

Aplikace

Optická charakterizace nanostruktur

Optická charakterizace nanostruktur

Jako nanostruktury (kvantové tečky, nanokrystaly, nanovlákna, nanomembrány, nanotrubičky, …) jsou označovány objekty o r..

Fotovoltaika

Fotovoltaika

V rámci potřeby zvyšování energetické i ekonomické efektivity solárních článků jsou častým předmětem vědeckého bádání ma..

Skladování energie

Skladování energie

Skladování energie je klíčovým faktorem při využívání obnovitelných zdrojů energie a přechodu na udržitelnější energetic..

Parametry

Rodina AFM mikroskopů Vero sestává ze:

  • základního modelu Vero S - velmi vysoké rozlišení s rychlým skenováním a širokou nabídkou režimů
  • environmentálního AFM Vero ES - veškerý výkon a funkce modelu Vero S a navíc široká škála výjimečného příslušenství pro kontrolu prostředí s hermeticky uzavřenou vzorkovou komorou

Kromě standardních AFM módů (tapping, kontaktní režim, fázové zobrazování) je v nabídce i kombinované režimy pro měření:

  • elektrických (PFM, cAFM, KPFM, EFM, ..) a magnetických (MFM)
  • termálních (SThM)
  • a mechanických vlastností (Force curves, Force mapping, FFM, contact resonance viscoelastic mapping, AM-FM, ...),
  • dále například nanomanipulace a nanolitografie a další možností.

Dokumenty

Technická poznámka - QPDI technologie

Žádost o stažení dokumentu

Datový List - VERO

Žádost o stažení dokumentu

Poptat produkt

Máte zájem o produkt? Zašlete nám své požadavky skrze poptávkový formulář nebo využijte přímý kontakt na odborného poradce. Rádi zodpovíme vaše dotazy a navrhneme řešení dle vašich potřeb.

Odborný poradce

Richard Schuster

Ing. Richard Schuster

tel: +420 601 123 593
mail: schuster@optixs.cz