NexView NX2 profiloměry jsou nejvýkonnější interferometrické systémy nové generace s unikátní kombinací technologií měření pro velký rozsah a rychlost měření při současném zachování vynikající opakovatelnosti měření. Jsou zde unikátním způsobem kombinovány módy CSI (Coherence Scanning Interferometry) a PSI (Phase Shifting Interferometry) tak, že uživatel získává výhodou obou přístupů současně a nemusí tedy volit mezi jedním a druhým způsobem měření povrchu.
Navíc tento optický profilometr v kombinaci s propracovanou softwarovou analýzou umožňuje měření prakticky každého povrchu, včetně transparentních multivrstev, hrubých i vysoce leštěných reflexních kovových vrstev, vysoce rozptylujících povrchů a mnoha dalších. To vše bez nutnosti volby módu měření. Díky unikátní patentované technologii měřit simultánně profil a tloušťku tenkých transparentních vrstev současně s měřením profilu substrátu.
NexView NX2 profilometr je možno plně automatizovat pomocí předem naprogramované sekvence příkazů, čehož lze využít pro opakované měření dílů při kontrole kvality nebo pro měření více míst vzorku během jediného měření. Stiskem jednoho tlačítka je tak možné získat velmi rychle a s bezkonkurenční přesností povrchový profil měřeného předmětu.
Profiloměr splňuje parametry normy ISO 25178 pro měření povrchů a navíc je odolný vůči vibracím, a tak je možné jej využít pro měření prakticky v jakémkoliv prostředí. Měří se sub-nanometrovou přesností nezávisle na zorném poli. Tento bezkontaktní drsnoměr umožňuje mimo jiné určit drsnost v souladu s ISO normami, rovinnost, schodovitost, strmost sklonu, a to pro výškové rozsahy od desetin nanometru až do 20 mm.
Dodávaný software Mx™ umožňuje ovládání profilometru a následnou pokročilou analýzu naměřených dat. Získané výsledky pak lze vizualizovat pomocí interaktivních 3D map a vyhodnocovat případné odchylky od požadovaných výsledků.
