Lasery a přístrojová technika

Optická charakterizace nanostruktur

Jako nanostruktury (kvantové tečky, nanokrystaly, nanovlákna, nanomembrány, nanotrubičky, …) jsou označovány objekty o rozměrech v rozmezí jednotek až desítek nanometrů. Vykazují unikátní fyzikální a chemické vlastnosti, které se v makrosvětě nepozorují. Nanotechnologie se považuje za jeden z hlavních zdrojů inovací v technice a zároveň za jednu z hlavních priorit ve vědě pro 21. století.

Máte zájem o tuto aplikaci? Potřebujete radu?
Kontaktujte nás

Optické metody charakterizace jsou techniky, které k získání informace o studovaném materiálu používají optické záření. Zahrnují například mikroskopii, elipsometrii, fotoluminiscenční spektroskopii či Ramanovu spektroskopii.

Stabilita světelného zdroje = klíčový faktor

Při charakterizaci velmi malých struktur je stabilita použitého světelného zdroje kritická. Superkontinuální lasery SuperK EXTREME společnosti NKT Photonics poskytují jedinečnou funkci Power Lock, která umožňuje kompenzovat drift a nestabilitu v nastavení zrcadel, čoček apod. Uživatelům laseru tak dokáže poskytnout stabilitu výkonu v rozmezí 0,2 - 0,5 %.

Výkonová stabilita superkontinuálního laseru s filtračním modulem Varia

Uvedený obrázek znázorňuje výstup z filtračního modulu VARIA bez a s použitím funkce Power Lock. Kromě skvělé stability výkonu se SuperK EXTREME může chlubit nejlepší směrovou stabilitou na trhu


Produkty pro Optická charakterizace nanostruktur

SuperK Compact

SuperK Compact

Nanosekundový superkontinuum laser o výkonu až 100mW

Spektroskopický elipsometr M-2000

Spektroskopický elipsometr M-2000

Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření

Spektroskopický elipsometr RC2

Spektroskopický elipsometr RC2

Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

FLS1000 luminiscenční spektrometr

FLS1000 luminiscenční spektrometr

Kompletní luminiscenční laboratoř v rámci jednoho přístroje

In situ elipsometr iSE

In situ elipsometr iSE

Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření

Elipsometr alpha 2.0

Elipsometr alpha 2.0

Základní spektroskopický elipsometr s nastavitelnými úhly dopadu.

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem

Špičkový spektroskopický elipsometr s mikrofokusací. Měření na bázi dual RCE technologie a CCD detekce.

Mapovací elipsometr Theta-SE

Mapovací elipsometr Theta-SE

Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev

AFSEM pro korelativní mikroskopii

AFSEM pro korelativní mikroskopii

AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM

VASE Elipsometr

VASE Elipsometr

Spektroskopický elipsometr se širokým spektrálním rozsahem a nastavitelným úhlem dopadu.

Jupiter XR - velkoformátové AFM

Jupiter XR - velkoformátové AFM

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

RM5 konfokální Ramanův mikroskop

RM5 konfokální Ramanův mikroskop

Kompaktní a plně automatizovaný konfokální Ramanův mikroskop pro analytické a výzkumné účely

Cypher - Ultravýkonné AFM

Cypher - Ultravýkonné AFM

Cypher - rodina ultravýkonných AFM mikroskopů pro měření bez kompromisů.

MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace

MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace

MFP-3D rodina výkonných AFM mikroskopů (nejen) pro bioaplikace a materiálový výzkum.

Vero - interferometrické AFM

Vero - interferometrické AFM

Vero - rodina ultravýkonných AFM s interferometrickým odměřováním posuvu hrotu

KONTAKTNÍ FORMULÁŘ

Informace o cookies na této stránce

Rádi bychom používali cookies. Umožní nám získat přehled o návštěvnosti webu, lépe cílit reklamu a vylepšovat naše služby.

Více informací

Nastavení cookies

Vaše soukromí je důležité. Používání souborů cookie si můžete vybrat, jak je popsáno níže. Vaše preference mohou být kdykoli změněny.