- Optixs
- Aplikace
- Materiálový výzkum
- Optická charakterizace nanostruktur
Optická charakterizace nanostruktur
Jako nanostruktury (kvantové tečky, nanokrystaly, nanovlákna, nanomembrány, nanotrubičky, …) jsou označovány objekty o rozměrech v rozmezí jednotek až desítek nanometrů. Vykazují unikátní fyzikální a chemické vlastnosti, které se v makrosvětě nepozorují. Nanotechnologie se považuje za jeden z hlavních zdrojů inovací v technice a zároveň za jednu z hlavních priorit ve vědě pro 21. století.
Optické metody charakterizace jsou techniky, které k získání informace o studovaném materiálu používají optické záření. Zahrnují například mikroskopii, elipsometrii, fotoluminiscenční spektroskopii či Ramanovu spektroskopii.
Stabilita světelného zdroje = klíčový faktor
Při charakterizaci velmi malých struktur je stabilita použitého světelného zdroje kritická. Superkontinuální lasery SuperK EXTREME společnosti NKT Photonics poskytují jedinečnou funkci Power Lock, která umožňuje kompenzovat drift a nestabilitu v nastavení zrcadel, čoček apod. Uživatelům laseru tak dokáže poskytnout stabilitu výkonu v rozmezí 0,2 - 0,5 %.
Uvedený obrázek znázorňuje výstup z filtračního modulu VARIA bez a s použitím funkce Power Lock. Kromě skvělé stability výkonu se SuperK EXTREME může chlubit nejlepší směrovou stabilitou na trhu
Produkty pro Optická charakterizace nanostruktur
![Spektroskopický elipsometr M-2000](/obrazky/web/1429spektroskopicky-elipsometr-m2000-ve-variante-s-automatizovanym-nastavenim-uhlu_sm.jpg)
Spektroskopický elipsometr M-2000
Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření
![Spektroskopický elipsometr RC2](/obrazky/web/1420sestava-rc2-elipsometru_sm.jpg)
Spektroskopický elipsometr RC2
Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory
![Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem](/obrazky/web/3336rc2-xf---focused_sm.jpg)
Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem
Špičkový spektroskopický elipsometr s mikrofokusací. Měření na bázi dual RCE technologie a CCD detekce.
![Mapovací elipsometr Theta-SE](/obrazky/web/1838rychly-mapovaci-spektroskopicky-elipsometr-theta-se_sm.jpg)
Mapovací elipsometr Theta-SE
Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev
![VASE Elipsometr](/obrazky/web/3678vase_sm.jpg)
VASE Elipsometr
Spektroskopický elipsometr se širokým spektrálním rozsahem a nastavitelným úhlem dopadu.
![Jupiter XR - velkoformátové AFM](/obrazky/web/2181large-sample-afm-mikroskop-jupiter-xr_sm.jpg)
Jupiter XR - velkoformátové AFM
Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření
![RM5 konfokální Ramanův mikroskop](/obrazky/web/2214rm5_sm.jpg)
RM5 konfokální Ramanův mikroskop
Kompaktní a plně automatizovaný konfokální Ramanův mikroskop pro analytické a výzkumné účely
![MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace](/obrazky/web/3739mfp-3d-bio_sm.jpg)
MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace
MFP-3D rodina výkonných AFM mikroskopů (nejen) pro bioaplikace a materiálový výzkum.
![Vero - interferometrické AFM](/obrazky/web/5150vero_sm.jpg)
Vero - interferometrické AFM
Vero - rodina ultravýkonných AFM s interferometrickým odměřováním posuvu hrotu