Lasery a přístrojová technika

Měření povrchů a vrstev

Výrobce

Typické využití

Měření povrchů a vrstev

V naší nabídce naleznete komplexní sadu spičkových přístrojů pro analýzu povrchů a tenkých vrstev. Nabízíme jak systémy na bázi bezkontaktního, tak i kontaktního měření; systémy pro měření i vytváření struktury povrchu v nano- i mikro- měřítku, tloušťky a složení vrstev, měření tvarových odchylek v mikro- i makroskopické škále, komplexní analýzu optických i mechanických vlastností.

Vero - interferometrické AFM

Vero

Vero - rodina ultravýkonných AFM s interferometrickým odměřováním posuvu hrotu

Diferenciální laserový interferometr SP-DI

Diferenciální laserový interferometr SP-DI

Systém pro diferenční měření délky a úhlu s nejvyšší stabilitou.

Dvoupaprskový interferometr

Dvoupaprskový interferometr

Dva paralelní měřící paprsky jsou využívány pro získání údajů o vzdálenosti, rozdílu poloh a úhlu.

Trojpaprskový laserový interferometr

Trojpaprskový laserový interferometr

Trojsvazkový interferometr pro přesné měření až 5 stupňů volnosti.

Kalibrační interferometr SP 15000 C

Kalibrační interferometr SP 15000 C

Kalibrační interferometr s až 6 stupni volnosti.

Laserový vibrometr

Laserový vibrometr

Extrémně přesný laserový interferometr pro měření vibračních spekter se snadnou justáží a ovládáním.

Měřidlo s dotykovou sondou

Měřidlo s dotykovou sondou

Kontaktní sonda s interferometrickým odměřováním pro určování tloušťky materiálu.

Jupiter XR - velkoformátové AFM

Jupiter XR

Jupiter XR pro AFM mikroskopii velkých vzorků bez kompromisů v rozlišení a rychlosti měření

Cypher - Ultravýkonné AFM

Cypher Family

Cypher - rodina ultravýkonných AFM mikroskopů pro měření bez kompromisů.

MFP-3D - AFM mikroskopy (nejen) pro bioaplikace

MFP-3D family

MFP-3D rodina výkonných AFM mikroskopů (nejen) pro bioaplikace a materiálový výzkum.

Compass 2

Compass 2

Compass 2 pro komplexní, plně automatizovanou metrologii povrchu čoček a mikro-čoček.

Nanopolohovací platforma NPP-1

Nanopolohovací platforma NPP-1

Planární polohovací platforma pro velkoplošné skenování nejen s AFM

Verifire MST+ pro simultánní testování více povrchů

Verifire MST+

Verifire MST+ je interferometr pro simultánní testování více povrchů, např. planparalelních tenkých destiček

Jednopaprskový laserový interferometr

Jednopaprskový laserový interferometr

Jednopaprskový, vysoce přesný interferometr pro odměřování polohy.

VASE Elipsometr

VASE Elipsometr

Spektroskopický elipsometr se širokým spektrálním rozsahem a nastavitelným úhlem dopadu.

AFSEM pro korelativní mikroskopii

AFSEM pro korelativní mikroskopii

AFSEM mikroskop pro korelativní měření AFM / SEM

Spektroskopický elipsometr M-2000

Spektroskopický elipsometr M-2000

Modulární spektroskopické elipsometry s unikátní kombinací rychlosti a přesnosti měření

MicroWriter ML3

MicroWriter ML3

Laserový litograf s přímým vysokorychlostním zápisem a vysokým rozlišením

Spektroskopický elipsometr RC2

Spektroskopický elipsometr RC2

Nejvyšší řada modulárních spektroskopických elipsometrů se dvěma rotujícími kompenzátory

Vertikální pracovní stanice

Verifire VTS

Vertikální pracovní stanice pro laserový Fizeau interferometr slouží pro automatizované měření sférické, asférické i free-form optiky

Optický drsnoměr ZeGage Pro

Optický drsnoměr ZeGage Pro

Robustní 3D optický drsnoměr s opakovatelností až 0,01 nm

Zygo objektivy

Zygo objektivy

Speciální objektivy Zygo pro WLI optické profiloměry

Optický profiloměr NewView 9000

Optický profiloměr NewView 9000

Bezkontaktní, modulární 3D profiloměr pro přesnou metrologii povrchu

In situ elipsometr iSE

In-situ elipsometr iSE

Špičkový spektroskopický elipsometr dedikovaný pro in-situ měření

Elipsometr alpha 2.0

Elipsometr alpha 2.0

Základní spektroskopický elipsometr s nastavitelnými úhly dopadu.

Verifire Asphere+

Verifire Asphere+

Verifire Asphere+ interferometry pro flexibilní a přesnou metrologii asférických povrchů

Optický profilometr NexView NX2

Optický profilometr NexView NX2

Nejlepší bezkontaktní optický 3D profiloměr a drsnoměr na trhu s opakovatelností RMS až 0,005 nm

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem

Mapovací elipsometr RC2® XF s mikrofokusem

Špičkový spektroskopický elipsometr s mikrofokusací. Měření na bázi dual RCE technologie a CCD detekce.

Mapovací elipsometr Theta-SE

Mapovací elipsometr Theta-SE

Rychlý spektroskopický elipsometr pro přesné mapování a charakterizaci vrstev

Informace o cookies na této stránce

Rádi bychom používali cookies. Umožní nám získat přehled o návštěvnosti webu, lépe cílit reklamu a vylepšovat naše služby.

Více informací

Nastavení cookies

Vaše soukromí je důležité. Používání souborů cookie si můžete vybrat, jak je popsáno níže. Vaše preference mohou být kdykoli změněny.